ATE per il Collaudo Schede
Qmax ATE
Qmax, con le sue metodologie innovative nell’ ingegneria per il test di schede elettroniche ha anticipato imponendo uno standard
La Qmax, propone soluzioni di test basate sulle reali necessità dell’ industria del collaudo e riparazione di schede elettroniche. La Qmax, si è guadagnata una posizione di rilievo sul mercato internazionale installando soluzioni di test per l’industria Militare e Civile. Le piattaforme hardware e software sono applicabili su schede di ultima generazione che presentano un alto livello di integrazione avendo a bordo dispositivi BGA e Fine Pitch. La Qmax è una delle poche aziende del settore che sviluppa stazioni di collaudo integrando le seguenti metodolgie di test: Funzionale da connettore, In-Circuit Funzionale, In-Circui Parametrico, JTAG Boundary Scan, Guided back- trancking In-Circuit Funzionale. Le stesse piattaforme destinate al collaudo in linea di produzione, sono predisposte per la diagnostica e riparazione delle schede che ritornano dal campo. I sistemi Qmax destinati alla riparazione, si avvalgono delle metodologie In-Circuit Funzionale e Parametrico. I sistemi Qmax sono anche predisposti del processo per riprodurre gli schemi da una scheda. Questo processo è conosciuto come “Reverse Engineering” ed è rihiesto quando si deve mantenere o duplicare degli apparati elettronici e non si dispone degli schemi.
Software TestDirector 6 Il software TestDirector 6 è l’applicativo per tutti gli ATE Qmax. è stato scritto in Dot Net Platform per facilitare l’integrazione con i vari moduli software e linguaggi. Il software è stato sviluppato con l’obbiettivo principale di offrire una interfaccia utente facile che richiedesse un tempo minimo di training. Offrire un solo software perfettamente compatibile con tutti i sistemi di test, è un vantaggio enorme per gli utilizzatori Qmax. In questo modo, utti posssono usurfruire dei vantaggi quando vengono apportati dei miglioramenti o implementate nuove funzioni.
TestDirector 6 e sue applicazioni
° TestDirector 6 – Interactive - utilizzo in tempo reale di tutte le funzioni e strumenti di test disponibili nel sistema senza dover scrivere alcun programma. Sono disponibili i seguenti test applicabili immediatamente sui componenti attivi e passivi: Open/Short, Misure RCLV, Test DC e AC, Test Parametrico QSM-VI, Test In-Circuit Funzionale, Boundary San Interconnect, Generatore di Funzioni Arbritario e Oscilloscopio.
° TestDirector 6 – TestSequenzer – sviluppo dei vettori di test TPS (Test Program Sequenzer) di una scheda comprendendo le varie sequenze e ramificazioni. Sono disposnibili i seguenti test: Fixture Test, Open/Short, Misure RLCV, Test DC e AC, JTAG Boundary Scan, Card Edge Functionality, Test guided backtracking, Test parametrico QSM-VI, Bus Cycle Signature Test.
° TestDirector 6 – TestStation – processo di test dei TPS sviluppati esportati dall’applicazione TestSequenzer. Sono disponibili molte funzioni utili per un utilizzo in linea di produzione.
° TestDirector 6 – IDTE – Integrated Device Developmet Tools. Applicazione software per creare nuovi modelli di dispositivi in linguaggio QDDL (Qmax Device Language, VHDL, PythodTD o Grafical Test, utilizzando la tecnica di di Learn e Compare.
° TestDirector 6 – TestSim - applicazione software per la verifica della copertura dei guasti del vettore di test.
° TestDirector 6 – Circui Trace – applicazione software per acquisire le net list da una scheda campione per generare lo schema della scheda. Questo processo e noto come “Revese Engineering”.
L’alta qualità dell’ hardware, una piattaforma software evoluta, un supporto tecnico on line pronto ed efficace, l’impegno costante e regolare della Qmax a mantenere uno standard di alto profilo tecnico ed un prezzo molto competitivo, sono una garanzia per una azienda che deve investire in un sistema di collaudo o riparazione di schede elettroniche.
La AL Electronic vi può assistere con un supporto locale qualificato offrendo soluzioni di test chiavi in mano.
Con i link di seguito potrete visionare i sistemi Qmax per categoria.
Sistemi per la Ricerca Guasti
Qmax - V200
La Qmax oltre ai sistemi di test per il collaudo, dispone di soluzioni anche a basso costo da ipiegare nella ricerca guasti avanzata di schede elettroniche di vecchia e nnuova generazione. I sistemi e strumenti per la diagnostica della Qmax, dispongono di metodologie In-Circuit Funzionale e Parametrico. Le due metodologie di ricerca guasti sono una combinazione ottimale che aumenta notevolmente la copertura dei guast e la qualità. Alcuni guasti sono praticamente impossibili da diagnosticare se non si applicano opportunamente le due metodi di ricerca guasti. Ad esempio: quando una scheda guasta non presenta alcuna attività logica o analogica, il test Funzionale è quasi inapplicabile e chi può dare ottime risorse è il test Parametrico QSM-VI. Mentre per verificare il fan-out o fan-in o rise time di un componente il Test Funzionale è appropriato. Averli disponibili entrambi nella stessa stazione di test è una garanzia maggiore che aumeta l’efficienza e la qualità della riparazione. Tutti i sistemi di ricevca guasti della Qmax dispongono di strumenti di misura come multimetro, oscilloscopio, ohmetro, capacimero e generatori di segnali arbritari.
Ricerca Guastu In-Circuit Funzionale: tutti i sistemi di ricerca guasti della Qmx, dispongono di una vasta libreria che contiene i profili di test per 22.000 componenti digitali, Analogici e misti che comprende TTL Cmos, ECL, RAM, MICRO, ecc. Tutti i profili dei componenti contenuti nella libreria sono pronti per essere applicati direttamente sui componenti presenti nella scheda. Un software TestDirector 6, prima del ciclo di test del componente, analizza i suoi collegamenti in scheda e modifica automaticamente il profilo di test. A tutto ci pensa il software TD6 Qmax. L’operatore deve solo selezionare il componente dalla libreria e premere un tasto per visualizare il risultato del test. Per automatizzare il processo di ricerca gusti, il software TD6 Qmax, permette di acquisire tutti i test dei singoli componenti assemblati su una scheda campione e li memorizza su di un PC per essere riutilizzati successivamente.
Ricerca Guasti In-Circuit Parametrico: combinato con il test In-Circuit Funzionale, i sistemi di ricevca guasti Qmax, diventani dei meezi efficienti per diagnosticare un guasto su una scheda elettronica. Il test Parametrico QSM-VI della Qmax, si applica sulla scheda non alimentata. Il sofware TD6 in dotazione dei sistemi, mette a disposizione dell’utilizzatore un tools di ricerca guasti facile da utilizzare e applicabile su qualsiasi scheda di vecchia e nuova generazione indipendentemente dalla tecnologia dei componenti assemblati. L’operatore deve solo appoggiare la sonda o pinza sul omponente e verificare il risultato sul monitor e con una semplice analisi si può stabilire se il dispositivo a subito dei danni. Per automatizzare la ricerca guasti, il software permette di acquisire ognI componente attivo e passivo da una scheda buona di riferimento e mmorizzare i dati su un PC. In questo modo semplice ed immediato si possono creare efficienti programmi di test.
Reverse Engineering: alcuni clienti dell’industria Militare e Civile sono costretti a mantenere funzionanti degli apparati elettronici pe molti anni e spesso non dispongono di alcuna documentazione. Il software della Qmax, mette a disposizione dell’operatore un processo semplice che pemette di ricreare una net list della scheda con la quale si genera lo schema.
Short Locator: alcuni componenti guasti su di una scheda elettronica si trovano collegati in parallelo ad altri, per identificarli in pratica si è costretti a dissaldarli e verificarli uno dopo l’altro. Per evitare tutto questo processo lungo e dannoso per la scheda, la Qmax ha sviluppato lo short locator QT25 che tramite delle misure permette di isolare il componente attivo e passivo guasto in una rete. In questo modo, grazie allo Short Locator Qmax, si dissalda solo il componente guasto.
La AL Electronic vi mette a disposizione la propria esperienza con corsi qualificati per gli utilizzatori e l’assistenza tecnica.
Con i link di seguito potete vedere i sistemi di ricerca guasti per categoria.
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