Qmax

Qmax sviluppa e produce una gamma completa di sistemi e strumenti automatizzati per il test e diagnostica di schede elettroniche (PCB) e semiconduttori. I sistemi Qmax si avvalgono di un’unica piattaforma software denominata TD6 che supporta tutte le tecniche di test elettrico. I sistemi Qmax sono utilizzati nell’Industria Civile e Militare in ogni parte del mondo. Qmax offre una gamma completa di soluzioni per il test Funzionale da connettore, Funzionale In-Circuit, Parametrico, Jtag Boundary Scan e Reverse Engineering.

La Qmax dispone di una gamma completa di flyng prober proprietari per  automatizza le applicazioni di test. I sistemi Qmax sono basati su una sola piattaforma software denominata TD6..

La maggior parte di ATE presenti sul mercato eseguono solo il test funzionale e non includono il Parametrico DC / AC il quale è essenziale e permette di raggiungere un livello di copertura guasti vicino allo zero. in particolare con le schede guaste che ritornano dal campo. Le sfide del test diventano più articolate quando le schede sono equipaggiate da componenti Boundary Scan, DSP e CPU o microcontrollori. Il sistema QT2256-640 PXI è concepito come tester per il collaudo di schede PCB complesse. Può essere facilmente aggiornato a 640 canali digitali programmabili, integra un’alimentazione della UUT. Inoltre si possono integrare strumentazione PXI, IEEE, test JTAG Boundary Scan, test parametrico AC / DC.
Il sistema QT2256-640 ATE è interfacciato a un PC host esterno tramite una scheda PCI Express.
Per un utilizzo su schede basate CPU, nel sistema può essere integrato anche l’applicazione patentata Qmax e definito “Bus Cycle Signature System” con il quale in modo semplice si possono diagnosticare guasti complessi.

Il QT2256-640 PXI e tutti i sistemi Qmax si avvalgono della piattaforma software TD6.

Pro-Rack è ATE conveniente con una struttura modulare configurabile in base alle effettive necessità del cliente.
In pratica è stato progettato per soddisfare le esigenze di test e riparazione di PCB tenendo presente l’evoluzione della tecnologica delle PCB e le sfide del collaudarle. Il sistema dispone di tecniche di test elettrico per applicazioni su PCB complesse con a bordo componenti PQFP, FPGA VLSI.
Il test parametrico AC / DC eseguito sul connettore della scheda, consente di verificare l’integrità dei pin fornendo informazioni su eventuali problemi di dispersione di corrente, o propagazione del tempo di commutazione dei segnali. Pro-Rack è progettato con un adattatore particolare con 16 bit che si collega al connettore della PCB.
Il ProRack si avvale della piattaforma software TD6.

V250 / V250PXI sono concepiti per il test di PCB molto complesse e includono varie tecniche di test nella stessa piattaforma. E’ in grado di eseguire test funzionale tramite i connettori della scheda, diagnostica avanzata guidata per quando si vuole riparare le schede che non passano il test in linea di collaudo, oppure ritornano dal campo guaste. Il sistema è applicabile su schede digitali, analogiche o miste di tipo complesse o tradizionale.
Il test può essere eseguito tramite pinze per un test In-Circuit oppure funzionale da connettore.
Il V250 si può avvalere di strumenti PXI.
Il sistemi V250 si avvalgono della piattaforma software TD6.

V200 è un mini ATE progettato per soddisfare le esigenze di collaudo e riparazione di PCB tenendo in considerazione l’evoluzione tecnologica delle schede attuali. Un sequencer advanced consente la sincronizzazione di eventi esterni o handshake durante il test complesso di microprocessori.
V200 è stato sviluppato per un test in linea di collaudo e riparazione di schede. L’aggiunta del test Jtag Boundary Scan, e test parametrico QSM VI, migliorano la qualità del test e aumentano il livello di diagnostica.
Il V200 come altri sistemi Qmax, quando utilizzato in un centro di riparazione, offre delle specifiche uniche che permettono di diagnosticare guasti anche quando non si dispone di alcuna documentazione tecnica.
Un software opzionale permette di ricavare gli schemi da una scheda campione (reverse engineering).
Il V200 si avvale della piattaforma software TD6.

V200 è un mini ATE progettato per soddisfare le esigenze di collaudo e riparazione di PCB tenendo in considerazione l’evoluzione tecnologica delle schede attuali. Un sequencer advanced consente la sincronizzazione di eventi esterni o handshake durante il test complesso di microprocessori.
V200 è stato sviluppato per un test in linea di collaudo e riparazione di schede. L’aggiunta del test Jtag Boundary Scan, e test parametrico QSM VI, migliorano la qualità del test e aumentano il livello di diagnostica.
Il V200 come altri sistemi Qmax, quando utilizzato in un centro di riparazione, offre delle specifiche uniche che permettono di diagnosticare guasti anche quando non si dispone di alcuna documentazione tecnica.
Un software opzionale permette di ricavare gli schemi da una scheda campione (reverse engineering).
Il V200 si avvale della piattaforma software TD6.

QT 200 NxT è un ATE moderno con funzioni touch screen, pc integrato e dimensioni ridotte.
QT200NxT è la sintesi delle richieste ricevute da un gran numero di clienti dell’area R&D, Produzione e Riparazione.
Le specifiche software e hardware e le diverse metodologie di test integrate, consentono di utilizzare il sistema in linea di collaudo oppure in un centro di riparazione e reverse enginnering.
Il QT200NxT dispone di una vasta libreria di componenti analogici e digitali che aiuta e semplifica la diagnostica quando non si hà alcuna documentazione tecnica della scheda.
Altre caratteristiche importanti sono l’integrazione del software basato su S.O. Windows, oscilloscopio, Volmetro RCV. La Qmax offre una varietà di clip e probe che facilitano il contatto fisico con i punti di test sulla scheda.
Il V200 si avvale della piattaforma software TD6.

QT1100 è uno strumento di ricerca guasti con un ottimo hardware supportato da un software intuitivo ed efficiente.
Il sistema è stato sviluppato per risolvere problemi su schede elettroniche di vecchia e nuova generazione con a bordo circuiti integrati TTL e CMOS alimentati a 5V.
Tramite una libreria interna, si può facilmente eseguire un test funzionale In-Circuit su dispositivi digitali e analogici fra cui anche SCR, Triac, Op Amp, comparatori DAC, ADC ecc. Il test “power Off” QSM VI avanzato permette un utilizzo estensivo del sistema su ogni componente sulla scheda. Tutti i test sono svolti tramite pinze, probe e clip disponibili dalla Qmax. Un connettore frontale con 64 pin permette di collegare il sistema alla scheda tramite un letto di chiodi.
Il QT1100 integra un localizzatore di corti, oscilloscopio digitale e volmetro RCV.
Opzionale il Reverse Engineering.

QT22è stato progettato tenendo presente le richieste di test su PCB di ultima generazione dove in molti casi sono richieste diverse metodologie di test.
Il sistema è un desk top con interfaccia USB 2.0 con integrato il test Boundary Scan standard IEEE 1149.x e test a freddo Qmax V-I
La combinazione dei due test, permette di applicare il del Boundary Scan sui dispositivi conformi allo standard IEEE 1149x e il test QSM V-I sui tutti i rimanenti componenti analogici, digitali, attivi e passivi. In questo modo si evitano costosi cluster di test.
È stato progettato per interfacciarsi con l’unità la UUT manualmente tramite semplici clip, sonde, cavi JTAG oppure essere interfacciato a un sistema con sonde mobili (flying prober) della Qmax in modo da eliminare totalmente costose fixture o altro hardware di collegamento alla scheda sotto test.
Il QT 22 integra anche la programmazione ISP (In System Programming).
Il QT22 si avvale della piattaforma software TD6.

Il kit di QE-49 IEEE1149.1 Boundary Scan Trainer è stato sviluppato dalla Qmax per fornire all’utente una buona comprensione e utilizzo del test boundary scan nel suo insieme. Il sistema dispone di canali logici funzionali con i quali si possono sviluppare cluster per un test anche dei dispositivi non boundary scan…..

Il sistema QT900 Qscan è stato progettato per fornire una soluzione unica di test per le schede progettate con dispositivi in conformità boundary scan e dispositivi NON boundary scan. Fornito di canali Digital I/O opzionali, è in grado di trasmettere e ricevere segnali sincronizzati via JTAG IEEE 1149 standard. In questa modalità il test dei canali digitali e test JTAG viene eseguito in modo sincrono. L’utilizzo di pin digitali di I/O disponibili connessi al connettore della scheda, elimina lo sviluppo di costose interfacce (fixture).
Il QT900 è la giusta soluzione quando necessita applicare il test Boundary Scan, test funzionale e Programmazione ISP (In System Programming).

Il QT25 si avvale di un metodo unico per rilevare in modo preciso una pista e un componente in corto o in bassa impedenza su una PCB. È stato progettato per rilevare velocemente circuiti in corto fra la VCC e GND oppure componenti in corto su una linea bus. I componenti e piste in corto su una PCB sono impossibili da rilevare con strumenti convenzionali specialmente quando sono collegati in parallelo.
Il QT25 in modalità milli-ohm può anche essere utilizzato per misurare la resistenza di contatto di un relè o commutatore…….

Reverse Enginnering
DISCLAIMER. All trademarks are acknowledged.

Panther 2K-CT è un tester Open/Short versatile progettato per l’applicazione di reverse engineering. Il sistema offre la possibilità di ricavare gli schemi da una scheda senza alcuna documentazione tecnica.Dal connettore frontale del sistema, è possibile collegare diverse tipologie di pinze ai vari componenti assemblati sulla PCB. Il software TD6 in dotazione, guida l’utente durante il processo di acquisizione della net list.
Il Panther 2KCT si avvale della piattaforma software TD6.